ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ (от электрон и ...графия), метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Применяется для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул в газах и парах. Физ. основа Э.- дифракция электронов (см. Дифракция частиц); при прохождении через вещество электроны, обладающие волновыми свойствами (см. Кор-пускулярно-волновой дуализм), взаимодействуют с атомами, в результате чего образуются отдельные дифрагированные пучки. Интенсивности и пространственное распределение этих пучков находятся в строгом соответствии с атомной структурой образца, размерами и ориентацией отдельных кристалликов и др. структурными параметрами. Рассеяние электронов в веществе определяется электроста-тич. потенциалом атомов, максимумы к-рого в кристалле отвечают положениям атомных ядер.

Электрон ографич. исследования проводятся в спец. приборах - электронографах и электронных микроскопах; в условиях вакуума в них электроны ускоряются электрич. полем, фокусируются в узкий светосильный пучок, а образующиеся после прохождения через образец пучки либо фотографируются (электронограммы), либо регистрируются фотоэлектрич. устройством. В зависимости от величины электрич. напряжения, ускоряющего электроны, различают дифракцию быстрых электронов (напряжение от 30-50 кэв до 1000 кэв и более) и дифракцию медленных электронов (напряжение от неск. в до сотен в).

Э. принадлежит к дифракционным структурным методам (наряду с рентгеновским структурным анализом и нейтронографией) и обладает рядом особенностей. Благодаря несравнимо более сильному взаимодействию электронов с веществом, а также возможности создания светосильного пучка в электронографе, экспозиция для получения электронограмм обычно составляет ок. секунды, что позволяет исследовать структурные превращения, кристаллизацию и т. д. С др. стороны, сильное взаимодействие электронов с веществом ограничивает допустимую толщину просвечиваемых образцов десятыми долями мкм (при напряжении 1000-2000 кэв макс, толщина неск. ним).

Э. позволила изучать атомные структуры огромного числа веществ, существующих лишь в мелкокристаллич. состоянии. Она обладает также преимуществом перед рентгеновским структурным анализом в определении положения лёгких атомов в присутствии тяжёлых (методам нейтронографии доступны такие исследования, но лишь для кристаллов значительно больших размеров, чем для исследуемых в Э.).

Вид получаемых электронограмм зависит от характера исследуемых объектов. Электронограммы от плёнок, состоящих из кристалликов с достаточно точной взаимной ориентацией или тонких монокристаллич. пластинок, образованы точками или пятнами (рефлексами) с правильным взаимным расположением. При частичной ориентации кристалликов в плёнках по определённому закону (текстуры) получаются отражения в виде дуг (рис. 1). Электронограммы от образцов, состоящих из беспорядочно расположенных кристалликов, образованы аналогично дебаеграммам равномерно зачернёнными окружностями, а при съёмке на движущуюся фотопластинку (кинематич. съёмка) - параллельными линиями. Перечисл. типы электронограмм получаются в результате упругого, преимущественно однократного, рассеяния (без обмена энергией с кристаллом). При многократном неупругом рассеянии возникают вторичные дифракционные картины от дифрагированных пучков (рис. 2). Подобные электронограммы наз. кикучи-электронограммами (по имени получившего их впервые япон. физика). Электронограммы от молекул газа содержат небольшое число диффузных ореолов.

В основе определения элементарной ячейки кристаллич. структуры и её симметрии лежит измерение расположения рефлексов на электронограммах. Межплоскостное расстояние а в кристалле определяется из соотношения:

d = LЛlr,

где L - расстояние от рассеивающего образца до фотопластинки, Л - деорой-левская длина волны электрона, определяемая его энергией, r - расстояние от рефлекса до центрального пятна, создаваемого нерассеянными электронами. Методы расчёта атомной структуры кристаллов в Э. аналогичны применяемым в рентгеновском ‘структурном анализе (изменяются лишь нек-рые коэффициенты). Измерение интенсивностей рефлексов позволяет определить структурные амплитуды |Фhkl|. Распределение электростатич. потенциала ф(x, у,z) кристалла представляется в виде ряда Фурье:

(h, k, I - миллеровские индексы, О - объём элементарной ячейки). Макс, значения ф(x, у, z) соответствуют положениям атомов внутри элементарной ячейки кристалла (рис. 3). Т. о., расчёт значений ф(x, у, z), к-рый обычно осуществляется ЭВМ, позволяет установить координаты х, у, z атомов, расстояния между ними и т. п.

Методами Э. были определены мн. неизвестные атомные структуры, уточнены и дополнены рентгеноструктурные данные для большого числа веществ, в т. ч. мн. цепных и циклич. углеводородов, в к-рых впервые были локализованы атомы водорода, молекулы нитридов переходных металлов (Fe, Cr, Ni, W), обширный класс окислов ниобия, ванадия и тантала с локализацией атомов N и О соответственно, а также 2- и 3-компонентных полупроводниковых соединений, глинистых минералов и слоистых структур. При помощи Э. можно также изучать строение дефектных структур. В комплексе с электронной микроскопией Э. позволяет изучать степень совершенства структуры тонких кристаллич. плёнок, используемых в различных областях совр. техники. Для процессов эпитаксии существенным является контроль степени совершенства поверхности подложки до нанесения плёнок, к-рый выполняется с помощью кикучи-электронограмм: даже незначит. нарушения её структуры приводят к размытию кикучи-линий.

На электронограммах, получаемых от газов, нет чётких рефлексов (т. к. объект не обладает строго периодич. структурой) и их интерпретация осуществляется др. методами.

Интенсивность каждой точки этих электронограмм определяется как молекулой в целом, так и входящими в неё атомами. Для структурных исследований важна молекулярная составляющая, атомную же составляющую рассматривают как фон и измеряют отношение молекулярной интенсивности к общей интенсивности в каждой точке электронограммы. Эти данные позволяют определять структуры молекул с числом атомов до 10-20, а также характер их тепловых колебаний в широком интервале темп-р. Таким путём изучено строение мн. органич. молекул, структуры молекул галогенидов, окислов и др. соединений. Аналогичным методом проводят анализ атомной структуры ближнего порядка (см. Дальний порядок и ближний порядок) в аморфных телах, стёклах и жидкостях.

При использовании медленных электронов их дифракция сопровождается эффектом Оже и др. явлениями, возникающими вследствие сильного взаимодействия медленных электронов с атомами. Недостаточное развитие теории и сложность эксперимента затрудняют однозначную интерпретацию дифракционных картин. Применение этого метода целесообразно в сочетании с масс- и Ожеспектроскопией для исследования атомной структуры адсорбированных слоев, напр, газов, и поверхностей кристаллов на глубину неск. атомных слоев (на 10- 30 А). Эти исследования позволяют изучать явления адсорбции, самые начальные стадии кристаллизации и т. д.

Лит.: П и н с к е р 3. Г., Дифракция электронов, М.- Л., 1949; Вайнштейн Б. К., Структурная электронография, М., 1956; Звягин Б.Б., Электронография и структурная кристаллография глинистых минералов, М., 1964. 3. Г. Пинскер.

изучение атомной структуры молекул методом электронографии. Э. м. в газах и парах, а также электронография молекулярных кристаллов, аморфных тел и жидкостей позволила получить новые и уточнить имеющиеся данные о строении молекул мн. хим. соединений.




Смотреть больше слов в «Большой советской энциклопедии»

ЭЛЕКТРОНОЖ →← ЭЛЕКТРОНОГРАФ

Смотреть что такое ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ в других словарях:

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

(от Электрон и ...графия        метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Применяется для ... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

метод изучения структуры в-ва, основанный на исследовании рассеяния образцом ускоренных эл-нов. Применяется для изучения ат. структуры кристалл... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

метод исследования атомной структуры в-ва, гл. обр. кристаллов, основанный на дифракции электронов (см. Дифракционные методы). Существует неск. вариан... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

[electron diffraction study] — метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом. Физическая основа электронографии — дифракция электронов (Смотри Дифракция частиц); при прохождении через вещество электроны, обладающие волновыми свойствами, взаимодействуют с атомами, в результате чего образуются отдельные дифрагированные пучки.Интенсивность и пространственное распределение этих пучков строго соответствует атомной структуре образца, размерам и ориентации отдельных кристалликов и других структурных параметров. Электронографические исследования проводятся в специальных приборах — электронографах и электронных микроскопах; в условиях вакуума в них электроны ускоряются электрическим полем, фокусируются в узкий светосильный пучок, а образования после прохождения через образующиеся пучки либо фотографируются (электронограммы), либо регистрируются фотоэлектрическим устройством. В зависимости от величины электрического напряжения, ускоряющего электроны, различ дифракцию быстрых электронов (напряжение от 30 — 50 кэВ до 1 МэВ) и дифракцию медленных электронов (напряжение от нескольких до сотен вольт). Электронографию широко применяют для изучения атомной структуры кристаллов, аморфных тел и жидкостей, молекул в газах и парах. <br> <br><br>... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

— метод структурного анализа тонкодисперсных м-лов, к-лы которых проницаемы для электронов. Задачи Э.: диагностика, детальное структурное изучение м-лов, выявление их тонких отличий от др. родственных м-лов, строгое определение полиморфных модиф., характеристика нарушения упорядоченности и определение содер. тех минер. компонентов, которые доступны для дифракции электронов. Достоинством метода является: возможность исследования очень малых количеств вещества (10<sup>-5</sup> г), наблюдение дифракционной картины на экране, что позволяет выбрать наиболее интересные участки препарата, фотосъемка электронограмм с ничтожно малыми экспозициями (порядка несколько секунд). Дифракция электронов осуществляется в вакуумных приборах — электронографах и электронных микроскопах. В некоторых электронных микроскопах (ЭМ-3, ЭМ-5, ЭМ-7) имеются электронографические насадки, с помощью которых эти микроскопы могут быть использованы как электронографы. Получаемые методом Э. картины дифракции электронов называются электронограммами.<br><p class="src"><em><span itemprop="source">Геологический словарь: в 2-х томах. — М.: Недра</span>.<span itemprop="author">Под редакцией К. Н. Паффенгольца и др.</span>.<span itemprop="source-date">1978</span>.</em></p>... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

1) Орфографическая запись слова: электронография2) Ударение в слове: электроногр`афия3) Деление слова на слоги (перенос слова): электронография4) Фонет... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электроногра́фия (см. электрон + ...графия) метод исследования строения веществ (структуры кристаллов, молекул и т. д.), основанный на дифракции элект... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

Гекат Гаф Гарт Гарри Гарнир Гарин Гарик Гаолян Галя Галофит Гало Галкин Галифе Галит Галиот Галерник Галеркин Галеон Галенит Гален Гак Гаер Аят Аэрофор Аэрофон Аэрофлот Аэрофит Аэротенк Аэрон Аэрология Аэролог Аэролифт Аэролит Аэро Аэлит Афт Афронт Афония Афон Атрофия Атрек Атония Артрон Артрология Артролог Артерия Артериол Артек Арт Арренотокия Арония Арон Арно Арник Арлекин Арктогея Аркотрон Арк Ария Арион Арин Аретология Ареолотия Ареология Арен Арек Аргон Арго Аоот Аон Аня Анфология Анфия Антология Антикор Антик Анти Антея Ант Анри Анкерит Анкер Анк Аник Гектар Анетол Анергия Англо Англия Ангелок Ангел Гектор Аля Геликон Гелио Алоэ Алкин Алкен Алин Алик Ален Актин Гелия Актер Гелофит Ген Генка Акт Акротерия Акролеин Акрил Аконит Акно Геолотия Геофак Аил Агро Агент Геофон Агит Агния Агония Агор Агрофон Аир Аки Акие Геофит Генри Акр... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

• электронография f english: electron diffraction analysis deutsch: Elektronenbeugungsuntersuchung f français: analyse f électronographique

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

корень - ЭЛЕКТР; соединительная гласная - О; корень - ГРАФ; окончание - ИЯ; Основа слова: ЭЛЕКТРОГРАФВычисленный способ образования слова: Сложение осн... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ж.electron diffraction, electron diffraction analysis, electron diffraction technique- высоковольтная электронография- газовая электронография- динамич... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

Ударение в слове: электроногр`афияУдарение падает на букву: аБезударные гласные в слове: электроногр`афия

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

(отэлектрон и ...графия) - метод исследования строения в-ва, осн. на получении и регистрации дифракц. картин, возникающих при рассеянии пучка электроно... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электроногра́фия, электроногра́фии, электроногра́фии, электроногра́фий, электроногра́фии, электроногра́фиям, электроногра́фию, электроногра́фии, электроногра́фией, электроногра́фиею, электроногра́фиями, электроногра́фии, электроногра́фиях (Источник: «Полная акцентуированная парадигма по А. А. Зализняку») .... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

-и, ж. Метод изучения структуры вещества, основанный на рассеянии ускоренных электронов исследуемым образцом.[От греч. ’ήλεκτρον — янтарь и γράφω — ... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электроногра'фия, электроногра'фии, электроногра'фии, электроногра'фий, электроногра'фии, электроногра'фиям, электроногра'фию, электроногра'фии, электроногра'фией, электроногра'фиею, электроногра'фиями, электроногра'фии, электроногра'фиях... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.<br><br><br>... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ - метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.<br>... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ , метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ, метод исследования строения веществ, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографии определяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

electron diffraction investigation* * *электроногра́фия ж.electron diffractometry* * *electron diffractometry

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электронография [см. влектрон + ...графия] - метод исследования строения веществ (структуры кристаллов, молекул и т. д.), основанный на дифракции электронов, пронизывающих вещество. <br><br><br>... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

метод исследования строения в-в, основанный на дифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом Э. определяют атомную структуру кристаллов и аморфн... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

- метод исследования строения веществ, основанный надифракции электронов (см. Дифракция частиц). Методом электронографииопределяют атомную структуру кристаллов и аморфных тел, молекул.... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

ж. diffrattometria f elettronica

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

(1 ж), Р., Д., Пр. электроногра/фии

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электро́ногра́фия, -и

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

Начальная форма - Электронография, единственное число, женский род, именительный падеж, неодушевленное

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

analyse par diffraction électronique, diffraction électronique, diffraction des électrons

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

физ. електроногра́фія - газовая электронография - структурная электронография

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

Elektronendiffraktografie, Elektronographie

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электроногр'афия, -и

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электронография электроногр`афия, -и

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электронография

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

〔名词〕 电子衍射学电子射线学

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электронаграфія, жен.

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электронаграфiя, -фii

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

electron diffraction study

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ

электронаграфiя, -фii

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ МОЛЕКУЛ

        изучение атомной структуры молекул методом электронографии (См. Электронография). Э. м. в газах и парах, а также электронография молекулярных к... смотреть

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ СЛОЁВ

electron diffraction analysis of surface layers

T: 237